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法国HI-PHEN植物冠层分析仪

法国HI-PHEN植物冠层分析仪

产品型号: Airphen

所属分类:机载型植物冠层分析仪

更新时间:2018-07-04

简要描述:法国HI-PHEN植物冠层分析仪,测量原理基于贝尔定律,结合Norman和Campbell线性最小二乘理论​;Norman和Campbell线性最小二乘理论所需要的已知参数包括:太阳天顶角、冠层下的透光率和叶片的聚集指数,计算出冠层的有效LAI,结合聚集指数推算出真正的有效LAI。太阳方位角即太阳所在的方位,指太阳光线在地平面上的投影与当地子午线的夹角。

详细说明:

法国HI-PHEN植物冠层分析仪特点

    独特两轮设计便于野外快速、轻松获取数据

    用户友好接口、适合大区实验

    多角度测量降低直接光照影响

    GPS和罗盘精确定位测量

法国HI-PHEN植物冠层分析仪如何测量

    太阳方位角即太阳所在的方位,指太阳光线在地平面上的投影与当地子午线的夹角,可近似地看作是竖立在地面上的直线在阳光下的阴影与正南方的夹角。反演的过程其实就是求解多元方程组,因太阳天顶角的个数必须大于叶倾角在0°到90°内所分的区间个数,方程组才能解。最后根据反演得到的各个叶倾角区间内的有效LAI,可以得出对应区间的叶倾角概率密度分布情况,当叶倾角区间的个数越多叶倾角概率密度曲线就越平滑,但还需要通过线性回归分析来确定叶倾角区间个数是多少时,反演是优秀的。事实上叶倾角概率密度分布曲线属于单峰型曲线,无论区间个数多少,实测结果的叶倾角概率分布曲线介于线性最小二乘理论反演结果和Campbell函数拟合结果曲线之间。Campbell函数拟合的概率密度要比实测的要偏小,线性最小二乘理论由于得到的是对应叶倾角区间中值的离散结果,反演结果偏大在其他叶倾角区间时,两者存在一种互补关系。

测量叶面积指数与叶倾角分布关

    叶面积指数和叶倾角分布都是表征植被冠层结构的重要参数,用来反映植物叶面数量、叶子角度分布、植被群落生命活力及其环境效应,为植物冠层表面物质和质量交换的描述提供结构化的定量信息,是植被定量遥感研究中的关键问题。LAI是一个无量纲度量的参数,其大小与植被种类、生长期、LAD、叶簇和非生物量等因素有关。



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